二次圖像測量儀的測量原理
1.基本測量原則
在實際測量中，同一被測對象可以采用多種測量方法。為了降測量不確定度，應盡可能遵守以下基本測量原則:
(1)阿貝原理:測量過程中被測長度和參考長度應放在同一條直線上的原理。如果被測長度與基準長度并排放置，在測量和比較過程中，由于制造誤差、移動方向的偏差以及兩個長度之間的夾角，會產生較大的誤差。誤差不僅與兩個長度之間的角度有關，還與它們之間的距離有關。距離越大，誤差越大。
(2)基準統一原則:測量基準應與加工基準和使用基準統一。即工藝測量應以工藝基準為測量基準，終檢驗量以設計基準為測量基準。
2.短鏈原則
在間接測量中，與被測量有函數關系的其他量與被測量形成測量鏈。形成測量鏈的環節越多，需要測量的不確定性就越大。因此，應盡可能減少測量鏈中的環節數，以保證測量精度，這被稱為短鏈原則。當然，根據這個原理，用直接測量代替間接測量更好。因此，間接測量僅在無法使用直接測量或直接測量的精度無法保證時使用。短鏈原則的實際應用是，應使用少數量的量塊來形成所需尺寸的量塊組。小變形原則:由于實際溫度與標準溫度和應力(重力和測量力)的偏差，測量儀器和被測零件都會變形，導致測量誤差。測量過程中，控制測量溫度及其變化，保證測量儀器與被測零件有足夠的等溫時間，選擇與被測零件線膨脹系數相近的測量儀器，選擇合適的測量力并保持穩定，選擇合適的支撐點等。，都是實現小變形原則的有效措施。
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